Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good lab

FAIZAN A. · Відгук надано більше 1 року тому

Gauri P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ni Made W. · Відгук надано більше 1 року тому

gd

Sameer M. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shihab S. · Відгук надано більше 1 року тому

Md Faizaan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ali M. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Supriyo S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nazreen F. · Відгук надано більше 1 року тому

Nitin K. · Відгук надано більше 1 року тому

zeel p. · Відгук надано більше 1 року тому

Bharat J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sujal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shravani S. · Відгук надано більше 1 року тому

Naomi A. · Відгук надано більше 1 року тому

d

Alan J. · Відгук надано більше 1 року тому

CHIKKALA V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vyuhita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Uday G. · Відгук надано більше 1 року тому

achmad a. · Відгук надано більше 1 року тому

Gautam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Sairam R. · Відгук надано більше 1 року тому

done

CPFS m. · Відгук надано більше 1 року тому

Parth K. · Відгук надано більше 1 року тому