Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good lab

Riya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sangamesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Lipsikha P. · Відгук надано більше 1 року тому

Varun T. · Відгук надано більше 1 року тому

Kasanagottu H. · Відгук надано більше 1 року тому

Srinanda C S G. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Darma w. · Відгук надано більше 1 року тому

Somya R. · Відгук надано більше 1 року тому

Febry A. · Відгук надано більше 1 року тому

sara p. · Відгук надано більше 1 року тому

Vijender K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vijender K. · Відгук надано більше 1 року тому

Multi B. S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyash V. · Відгук надано більше 1 року тому

Saniya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Manas Vikas R. · Відгук надано більше 1 року тому

Taufan E. · Відгук надано більше 1 року тому

RULLI DAMARA P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anu . · Відгук надано більше 1 року тому

Muvvala K. · Відгук надано більше 1 року тому

Violina M. · Відгук надано більше 1 року тому

shine j. · Відгук надано більше 1 року тому