Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

RAMU K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mau S. · Відгук надано більше 1 року тому

Avdhoot K. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabhat K. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik Guha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Raghav A. · Відгук надано більше 1 року тому

Smita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Neha P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahithi 2. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayuj M. · Відгук надано більше 1 року тому

Aniket D. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Himakar S. · Відгук надано більше 1 року тому

ismail z. · Відгук надано більше 1 року тому

Mayank D. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi C. · Відгук надано більше 1 року тому

Debasish P. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Amrit p. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Om H. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijeet S. · Відгук надано більше 1 року тому

gajender s. · Відгук надано більше 1 року тому

Siti S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritik O. · Відгук надано більше 1 року тому

VIKAS G. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Saatvik Shashank S. · Відгук надано більше 1 року тому

FALTU T. · Відгук надано більше 1 року тому