Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Bharath S. · Відгук надано більше 1 року тому

Divyesh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharva K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shekhar K. · Відгук надано більше 1 року тому

Archana K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshat V. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay ln s. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay ln s. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfaiz S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathmesh A. · Відгук надано більше 1 року тому

Shaikh A. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajesh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Shahnawaz A. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshit G. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratham T. · Відгук надано більше 1 року тому

Anand B. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfaiz S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

SIDDHARTH P. · Відгук надано більше 1 року тому

K P M. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

madhukar e. · Відгук надано більше 1 року тому

Annapurna S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ganesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Avdhoot K. · Відгук надано більше 1 року тому