Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Prajwal H. · Відгук надано більше 1 року тому

prahlad g. · Відгук надано більше 1 року тому

Shayan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Wiyan Herra H. · Відгук надано більше 1 року тому

Hikari K. · Відгук надано більше 1 року тому

SUNIL S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rima P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rutuja J. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranali P. · Відгук надано більше 1 року тому

Prakhar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivam U. · Відгук надано більше 1 року тому

Kentaro I. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashwat K. · Відгук надано більше 1 року тому

Zishan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Raushan R. · Відгук надано більше 1 року тому

Manish B. · Відгук надано більше 1 року тому

Arnav S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kalyani P. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabhat K. · Відгук надано більше 1 року тому

VINIT KUMAR S. · Відгук надано більше 1 року тому

Parth s. · Відгук надано більше 1 року тому