Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

great

Daemon T. · Відгук надано більше 1 року тому

Saurabh A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

GOOD

Jinka C. · Відгук надано більше 1 року тому

renu n. · Відгук надано більше 1 року тому

Anamika G. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanaja Shilpa R. · Відгук надано більше 1 року тому

Erwin E. · Відгук надано більше 1 року тому

Areeb P. · Відгук надано більше 1 року тому

R N. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshika G. · Відгук надано більше 1 року тому

vaibhav n. · Відгук надано більше 1 року тому

Musa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Mr. Nasamajh E. · Відгук надано більше 1 року тому

Neha P. · Відгук надано більше 1 року тому

itz_ l. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash G. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Kiran P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman Kumar J. · Відгук надано більше 1 року тому

Gourav G. · Відгук надано більше 1 року тому

Manav R. · Відгук надано більше 1 року тому

Matin I. · Відгук надано більше 1 року тому

Heramb C. · Відгук надано більше 1 року тому