Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

chotu r. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham P. · Відгук надано більше 1 року тому

Saranya R. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshil G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rizki N. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyadeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash K. · Відгук надано більше 1 року тому

YASH K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rehan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikee S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shital S. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashan P. · Відгук надано більше 1 року тому

chinmay p. · Відгук надано більше 1 року тому

Naveen G. · Відгук надано більше 1 року тому

TEJAS Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Arif S. · Відгук надано більше 1 року тому

Amirullah H. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejas N. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Srujana P. · Відгук надано більше 1 року тому

nature w. · Відгук надано більше 1 року тому

Humaidi A. · Відгук надано більше 1 року тому

DIVYA S. · Відгук надано більше 1 року тому