Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mahesh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Mir Nayeem U. · Відгук надано більше 1 року тому

Nirmit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Pasupuleti N. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Kalyani S. · Відгук надано більше 1 року тому

Navneeth K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sainandan B. · Відгук надано більше 1 року тому

Doraemon N. · Відгук надано більше 1 року тому

Megh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sadhya G. · Відгук надано більше 1 року тому

B U. · Відгук надано більше 1 року тому

Paras J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sheikh A. · Відгук надано більше 1 року тому

umar k. · Відгук надано більше 1 року тому

Chetan B. · Відгук надано більше 1 року тому

Prashant P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritik k. · Відгук надано більше 1 року тому

Janvi C. · Відгук надано більше 1 року тому

anusri t. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakshit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek M. · Відгук надано більше 1 року тому

AJAY B. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay k. · Відгук надано більше 1 року тому

Som P. · Відгук надано більше 1 року тому