Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Yash C. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash W. · Відгук надано більше 1 року тому

raihan d. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishikesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Devansha G. · Відгук надано більше 1 року тому

geetika g. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

HARDIK D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rushaliny T. · Відгук надано більше 1 року тому

Arcade'24 G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush k. · Відгук надано більше 1 року тому

Dushyant S. · Відгук надано більше 1 року тому

Amit K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vignesh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Varnika M. · Відгук надано більше 1 року тому

Irwan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharva P. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Ayushi A. · Відгук надано більше 1 року тому

POTTA L. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanav D. · Відгук надано більше 1 року тому

Manan S. · Відгук надано більше 1 року тому

shibbu j. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush k. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Mohammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Working

Marco Flavio D. · Відгук надано більше 1 року тому