Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Agastya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Piyush R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya K. · Відгук надано більше 1 року тому

general l. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prajjal B. · Відгук надано більше 1 року тому

Oksana S. · Відгук надано більше 1 року тому

Venkatesh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Ievgen V. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Nitish Kumar M G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahak S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanvi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Awesome.

RUDRAPRATAP P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritu G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankit kumar Tripathy G. · Відгук надано більше 1 року тому

KIRAN P. · Відгук надано більше 1 року тому

Adarsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanshu J. · Відгук надано більше 1 року тому

Shobhit K. · Відгук надано більше 1 року тому

ritika g. · Відгук надано більше 1 року тому

Venkata Phanisai J. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmay S. · Відгук надано більше 1 року тому

Eugen V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishal G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nandini K. · Відгук надано більше 1 року тому