Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

santoshi d. · Відгук надано більше 1 року тому

T H. · Відгук надано більше 1 року тому

Mithun S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sunny B. · Відгук надано більше 1 року тому

NIMMI S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab.

Sahil G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham g. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhav s. · Відгук надано більше 1 року тому

Awaludin A. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakshana R. · Відгук надано більше 1 року тому

Galih G. · Відгук надано більше 1 року тому

SANDEEP JI O. · Відгук надано більше 1 року тому

Pragathi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanchumarty H. · Відгук надано більше 1 року тому

Afri N. · Відгук надано більше 1 року тому

EFA Y. · Відгук надано більше 1 року тому

KHAMDAN A. · Відгук надано більше 1 року тому

Kokak S. · Відгук надано більше 1 року тому

V U. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nazila t. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfi S. · Відгук надано більше 1 року тому

20240810

Kamel S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya K. · Відгук надано більше 1 року тому