Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Dheeraj N. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak G. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Harsha Vardhan Reddy J. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhulina D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishant S. · Відгук надано більше 1 року тому

Hridaya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dalli D. · Відгук надано більше 1 року тому

PADMA M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sujal N. · Відгук надано більше 1 року тому

Shailesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Prem kumar P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshum D. · Відгук надано більше 1 року тому

Aniket G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mangolik R. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyash T. · Відгук надано більше 1 року тому

Prashant M. · Відгук надано більше 1 року тому

Chetan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Furqon N. · Відгук надано більше 1 року тому

Raju B. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Durga B. · Відгук надано більше 1 року тому

Vasa N. · Відгук надано більше 1 року тому

R072 D. · Відгук надано більше 1 року тому

Gopi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Algo S. · Відгук надано більше 1 року тому

weiming H. · Відгук надано більше 1 року тому