Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Aditya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mandira H. · Відгук надано більше 1 року тому

anushka s. · Відгук надано більше 1 року тому

Meet P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dinur S. · Відгук надано більше 1 року тому

Xerox G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pradip B. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham B. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Tanishq S. · Відгук надано більше 1 року тому

Syed M. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsha T. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Rohith M. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Dhanashree L. · Відгук надано більше 1 року тому

Van Khanh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahesh Kumar P. · Відгук надано більше 1 року тому

mahesh kumar p. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohitsing Sanjaysing P. · Відгук надано більше 1 року тому

Siddharth J. · Відгук надано більше 1 року тому

SATHI G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mujeeb N. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Dhanashree L. · Відгук надано більше 1 року тому

Prashant_ C. · Відгук надано більше 1 року тому

Himanshu K. · Відгук надано більше 1 року тому