Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Palash D. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreya U. · Відгук надано більше 1 року тому

Asim K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

simasbro m. · Відгук надано більше 1 року тому

Ani O. · Відгук надано більше 1 року тому

Aninda O. · Відгук надано більше 1 року тому

siddhi h. · Відгук надано більше 1 року тому

Monish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Amishaben R. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavika P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vedant P. · Відгук надано більше 1 року тому

Eshwar J. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Ritik V. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi J. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranjal Shiv G. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Krupesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

aditya p. · Відгук надано більше 1 року тому

Sourav C. · Відгук надано більше 1 року тому

Reinold G. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhamad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Novan N. · Відгук надано більше 1 року тому

SHIVAM K. · Відгук надано більше 1 року тому

ankita j. · Відгук надано більше 1 року тому

Arbaaz S. · Відгук надано більше 1 року тому