Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mrunmai K. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep J. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathmesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashraj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanradhya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Santanu K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi V. · Відгук надано більше 1 року тому

Silver G. · Відгук надано більше 1 року тому

Jayant V. · Відгук надано більше 1 року тому

All Good

Veera Venkata Sai Ram S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shahnaz S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jainam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vasantha K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Naveen k. · Відгук надано більше 1 року тому

Aritra G. · Відгук надано більше 1 року тому

V R Krishnamacharyulu P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jaswanth kiran G. · Відгук надано більше 1 року тому

very good

Rohit M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep G. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Akmal N. · Відгук надано більше 1 року тому

Palash D. · Відгук надано більше 1 року тому

Tirtha H. · Відгук надано більше 1 року тому