Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

RITHIKA M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohit J. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna K. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham S. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Jyothika S. · Відгук надано більше 1 року тому

Himanshu K. · Відгук надано більше 1 року тому

MOHD NEHAL K. · Відгук надано більше 1 року тому

broken s. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan T. · Відгук надано більше 1 року тому

Shanu N. · Відгук надано більше 1 року тому

Avirup B. · Відгук надано більше 1 року тому

mahendargdc21 G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mehul S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreeya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Komal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubhendu M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rushikesh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishi kumar C. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek R. · Відгук надано більше 1 року тому

Monalisha P. · Відгук надано більше 1 року тому

Alok C. · Відгук надано більше 1 року тому

Prakash B. · Відгук надано більше 1 року тому

TATTVAM KAJAVADARA G. · Відгук надано більше 1 року тому

DHAYANAND k. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahil V. · Відгук надано більше 1 року тому