Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good

Prakhar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanishka G. · Відгук надано більше 1 року тому

Subratkumar m. · Відгук надано більше 1 року тому

Anmol G. · Відгук надано більше 1 року тому

Asad J. · Відгук надано більше 1 року тому

Kris H. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Manish K. · Відгук надано більше 1 року тому

TEJASWI K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ganesh L. · Відгук надано більше 1 року тому

A A. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudip C. · Відгук надано більше 1 року тому

Prameela A. · Відгук надано більше 1 року тому

329_SUDIP C. · Відгук надано більше 1 року тому

prabhat s. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudip C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sayandip D. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Khushi S. · Відгук надано більше 1 року тому

piyush t. · Відгук надано більше 1 року тому

akash p. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhinav A. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi B. · Відгук надано більше 1 року тому

PURNANK J. · Відгук надано більше 1 року тому

Varun G. · Відгук надано більше 1 року тому

PRATHAMESH W. · Відгук надано більше 1 року тому