Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good

Vraj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Jagdish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Samarth T. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nagarajan R. · Відгук надано більше 1 року тому

divyesh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Utsav B. · Відгук надано більше 1 року тому

Thokada S. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshat K. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tushar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Meghashyam R. · Відгук надано більше 1 року тому

PULIPATI S. · Відгук надано більше 1 року тому

Arya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Utsav B. · Відгук надано більше 1 року тому

Sonalika s. · Відгук надано більше 1 року тому

Uvais S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jagannadh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanshu P. · Відгук надано більше 1 року тому

Suresh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Hendy A. · Відгук надано більше 1 року тому

Amaritanshi G. · Відгук надано більше 1 року тому

OM M. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashwat K. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Himanshu Y. · Відгук надано більше 1 року тому