Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Krish T. · Відгук надано більше 1 року тому

Sayandeep P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

hawis s. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmay N. · Відгук надано більше 1 року тому

Gourav S. · Відгук надано більше 1 року тому

SAKSHAM RAKESH K. · Відгук надано більше 1 року тому

Keshav G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mafyul I. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajat B. · Відгук надано більше 1 року тому

Chandan H. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Mohammed Afrah U. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyatam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan R. · Відгук надано більше 1 року тому

Manohar K. · Відгук надано більше 1 року тому

Devender S. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanidhya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Yogesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nitesh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham B. · Відгук надано більше 1 року тому

Allamsetti H. · Відгук надано більше 1 року тому

satyamuralidhar p. · Відгук надано більше 1 року тому

sunirmal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivam P. · Відгук надано більше 1 року тому