Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Rapelli N. · Відгук надано більше 1 року тому

Arvind K. · Відгук надано більше 1 року тому

Disha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Muznakhan2189 G. · Відгук надано більше 1 року тому

somesh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Prakhar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Lokesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ansh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Anil S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shantanu M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishita y. · Відгук надано більше 1 року тому

KRISHNA H. · Відгук надано більше 1 року тому

nasreen p. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajat J. · Відгук надано більше 1 року тому

Naman J. · Відгук надано більше 1 року тому

GOOD

Dewarshi C. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishwjeet Singh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek P. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumyadeep N. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dnyanda D. · Відгук надано більше 1 року тому

SONAL P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anant J. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditi H. · Відгук надано більше 1 року тому

deepu p. · Відгук надано більше 1 року тому