Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Shreya K. · Відгук надано більше 1 року тому

bubg p. · Відгук надано більше 1 року тому

Utkarsh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Kirandeep K. · Відгук надано більше 1 року тому

Adi B. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranav Z. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Anil K. · Відгук надано більше 1 року тому

Durga Prasad E. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Amanpreet kaur B. · Відгук надано більше 1 року тому

MD KAIF A. · Відгук надано більше 1 року тому

K K. · Відгук надано більше 1 року тому

tushar c. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham R. · Відгук надано більше 1 року тому

Udita R. · Відгук надано більше 1 року тому

Jay S. · Відгук надано більше 1 року тому

APEKSHA U. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pasam T. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh K. · Відгук надано більше 1 року тому

great

Sumanth J. · Відгук надано більше 1 року тому

Achint T. · Відгук надано більше 1 року тому

Twinkle S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nageshwar Prashad P. · Відгук надано більше 1 року тому