Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Naresh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Yakshay K. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham P. · Відгук надано більше 1 року тому

Kausalya S. · Відгук надано більше 1 року тому

gourab S. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohini S. · Відгук надано більше 1 року тому

Adam Sameer Ahamed S. · Відгук надано більше 1 року тому

Priya 0. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya C. · Відгук надано більше 1 року тому

Rashmi W. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Rashmi Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Laxmi Satish D. · Відгук надано більше 1 року тому

Adarsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sunkara L. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarvesh U. · Відгук надано більше 1 року тому

MANOJ KUMAR M. · Відгук надано більше 1 року тому

CHARAN T. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratham P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul B. · Відгук надано більше 1 року тому

Great

KUNAL K. · Відгук надано більше 1 року тому

Manish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Subham kr M. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskan B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aayush G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohan D. · Відгук надано більше 1 року тому