Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Sleepy P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanooj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Piyuxh_10 G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanuj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh A. · Відгук надано більше 1 року тому

Akella S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Kanishka S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravindra V. · Відгук надано більше 1 року тому

Chaitanya T. · Відгук надано більше 1 року тому

Kushal T. · Відгук надано більше 1 року тому

karthikeya venkata sai reddy s. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shrikant P. · Відгук надано більше 1 року тому

PRIYANSH P. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishnamohan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ranjita Bar D. · Відгук надано більше 1 року тому

Waldo. Jr P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rupam d. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya r. · Відгук надано більше 1 року тому

Sana P. · Відгук надано більше 1 року тому

rahmat h. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanuj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Manish V. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad E. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashish K. · Відгук надано більше 1 року тому