Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Ashutosh P. · Відгук надано більше 1 року тому

D J. · Відгук надано більше 1 року тому

Arnima G. · Відгук надано більше 1 року тому

shreya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tasmiya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Pournima C. · Відгук надано більше 1 року тому

Rehan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Maharaja P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshika S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prateek B. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumen B. · Відгук надано більше 1 року тому

Adi N. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinayak G. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhandit t. · Відгук надано більше 1 року тому

Firoj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh W. · Відгук надано більше 1 року тому

Sri Sai Sateesh Chandra R. · Відгук надано більше 1 року тому

Gidion F. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash B. · Відгук надано більше 1 року тому

Amit K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankur Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Sontineni Harsha V. · Відгук надано більше 1 року тому

Sri Sai Sateesh Chandra R. · Відгук надано більше 1 року тому