Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Hridaya G. · Відгук надано більше 1 року тому

piyush k. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

dion a. · Відгук надано більше 1 року тому

Akmal k. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivanshu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Darsh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Priya C. · Відгук надано більше 1 року тому

shy A. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Preeti Prangya P. · Відгук надано більше 1 року тому

vikas a. · Відгук надано більше 1 року тому

sudhir m. · Відгук надано більше 1 року тому

Smrutirupa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aris W. · Відгук надано більше 1 року тому

Cahyo W. · Відгук надано більше 1 року тому

Myakala S. · Відгук надано більше 1 року тому

saransh c. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay Kumar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Viswanadh .. · Відгук надано більше 1 року тому

mahak s. · Відгук надано більше 1 року тому

Sachin S. · Відгук надано більше 1 року тому

SRIRAM K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Jagdish P. · Відгук надано більше 1 року тому

hightech h. · Відгук надано більше 1 року тому

Ranjan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Syed Akkeal Juniath S. · Відгук надано більше 1 року тому