Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pragati D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankita L. · Відгук надано більше 1 року тому

Adil k. · Відгук надано більше 1 року тому

Cool

Sanket G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nur R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay B. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathamesh F. · Відгук надано більше 1 року тому

RF Technologies G. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

A-Nikhil K. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash K. · Відгук надано більше 1 року тому

Lokesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavyata T. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Divyansh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Ankit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Tagore A. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Aadarsh s. · Відгук надано більше 1 року тому

Chandan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita J. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek D. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhav J. · Відгук надано більше 1 року тому

Azlan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sachin V. · Відгук надано більше 1 року тому

Tech M. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanshu G. · Відгук надано більше 1 року тому

Arya R. · Відгук надано більше 1 року тому