Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Lakshin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad B. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Umesh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Anand S. · Відгук надано більше 1 року тому

Urindu Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Prafull S. · Відгук надано більше 1 року тому

SHALINEE S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush A. · Відгук надано більше 1 року тому

Shanmukha Thrisha k. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi V. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Diya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna S. · Відгук надано більше 1 року тому

HRITIK P. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Jagdish S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabesh A. · Відгук надано більше 1 року тому

GOVARDHAN N. · Відгук надано більше 1 року тому

Guinni B. · Відгук надано більше 1 року тому

Niranjan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Niranjan P. · Відгук надано більше 1 року тому

ok

Praveen S. · Відгук надано більше 1 року тому

HARSH S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhanush M. · Відгук надано більше 1 року тому

Pramod D. · Відгук надано більше 1 року тому

AMALA J. · Відгук надано більше 1 року тому