Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Juluri s. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi V. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Darshan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Moses H. · Відгук надано більше 1 року тому

prince r. · Відгук надано більше 1 року тому

xrftgvgc

Animesh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Shital P. · Відгук надано більше 1 року тому

Pentakota A. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tabish G. · Відгук надано більше 1 року тому

KAMAL LOCHAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tabish G. · Відгук надано більше 1 року тому

khadijah Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj M. · Відгук надано більше 1 року тому

domenika p. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Shaik R. · Відгук надано більше 1 року тому

ROHIT S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bharat H. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Daram L. · Відгук надано більше 1 року тому

phani v. · Відгук надано більше 1 року тому

yadlapalli k. · Відгук надано більше 1 року тому