Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Rajesh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Fakhri D. · Відгук надано більше 1 року тому

Poornambiga A. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabir K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Apurwa C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shikha M. · Відгук надано більше 1 року тому

ARRAMSHETTY S. · Відгук надано більше 1 року тому

Lalit .. · Відгук надано більше 1 року тому

samarajit m. · Відгук надано більше 1 року тому

Karthikeya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanisha Valli S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya R. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishnuyadav P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dheeraj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Digvijay S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kushal B. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gouri B. · Відгук надано більше 1 року тому

Leah P. · Відгук надано більше 1 року тому

Akansha B. · Відгук надано більше 1 року тому

Tagore A. · Відгук надано більше 1 року тому

INDRAJEET S. · Відгук надано більше 1 року тому

Adyasha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar H. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhavi K. · Відгук надано більше 1 року тому