Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good

Sangram D. · Відгук надано більше 1 року тому

Chandra Mouli D. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhinav S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashwini S. · Відгук надано більше 1 року тому

K Sruti R. · Відгук надано більше 1 року тому

jay g. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhuvan Krishna v. · Відгук надано більше 1 року тому

good good

Shubham G. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

kranthi a. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranali D. · Відгук надано більше 1 року тому

Signum Juniors G. · Відгук надано більше 1 року тому

Aida N. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik J. · Відгук надано більше 1 року тому

Md Symun N. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ladani N. · Відгук надано більше 1 року тому

Nasreen P. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshini Y. · Відгук надано більше 1 року тому

DAVATH P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shalini K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mehul J. · Відгук надано більше 1 року тому

LAKSHMAN K. · Відгук надано більше 1 року тому

Gauri T. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay J. · Відгук надано більше 1 року тому