Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Naga Siva Jyothi Sri B. · Відгук надано більше 1 року тому

Moni S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya J. · Відгук надано більше 1 року тому

Naveen V. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Abhishek N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankit K. · Відгук надано більше 1 року тому

ARPIT N. · Відгук надано більше 1 року тому

raman G. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanka B. · Відгук надано більше 1 року тому

aisha d. · Відгук надано більше 1 року тому

Lakshmi Priya K. · Відгук надано більше 1 року тому

achmad a. · Відгук надано більше 1 року тому

Roham M. · Відгук надано більше 1 року тому

Naine Pavan . · Відгук надано більше 1 року тому

nice lab

Mochammad Q. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha K. · Відгук надано більше 1 року тому

PRITAM S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vyom R. · Відгук надано більше 1 року тому

kedai s. · Відгук надано більше 1 року тому

Biswajit N. · Відгук надано більше 1 року тому

abdul s. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

donny k. · Відгук надано більше 1 року тому

Thomas R. · Відгук надано більше 1 року тому

Edson Mokiu Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Saranya M. · Відгук надано більше 1 року тому