Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Malvika V. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita W. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar H. · Відгук надано більше 1 року тому

Nawadha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Emu A. · Відгук надано більше 1 року тому

Roy L. · Відгук надано більше 1 року тому

Vikram K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Shiv narayan K. · Відгук надано більше 1 року тому

AYATULLAH D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit M. · Відгук надано більше 1 року тому

AYATULLAH D. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishal P. · Відгук надано більше 1 року тому

SATYA V. · Відгук надано більше 1 року тому

Paras G. · Відгук надано більше 1 року тому

Manfred J. · Відгук надано більше 1 року тому

Karan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Onkar F. · Відгук надано більше 1 року тому

Arcade F. · Відгук надано більше 1 року тому

Mangesh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Souradeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Jagruti D. · Відгук надано більше 1 року тому

vishal kumar Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanika J. · Відгук надано більше 1 року тому

ashwita r. · Відгук надано більше 1 року тому

Aswini R. · Відгук надано більше 1 року тому