Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Anil C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sayantan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharva I. · Відгук надано більше 1 року тому

RAM P. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Vedant P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sameeha F. · Відгук надано більше 1 року тому

Devendra R. · Відгук надано більше 1 року тому

Tech T. · Відгук надано більше 1 року тому

Divyanshu C. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya N. · Відгук надано більше 1 року тому

ok

Manas Ranjan S. · Відгук надано більше 1 року тому

YASHI G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nihar T. · Відгук надано більше 1 року тому

Pallvi G. · Відгук надано більше 1 року тому

vaibhav s. · Відгук надано більше 1 року тому

Labs D. · Відгук надано більше 1 року тому

Shruti S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Gangaparameshwari. D. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jungle B. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya N. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya N. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak Jung S. · Відгук надано більше 1 року тому

Barun D. · Відгук надано більше 1 року тому