Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Galih Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Baishali D. · Відгук надано більше 1 року тому

kunal G. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh J. · Відгук надано більше 1 року тому

HARSH J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akanksha S. · Відгук надано більше 1 року тому

great

Titash S. · Відгук надано більше 1 року тому

SUBHADEEP M. · Відгук надано більше 1 року тому

Avesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Archit P. · Відгук надано більше 1 року тому

NIRAJ KUMAR S. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhusmita P. · Відгук надано більше 1 року тому

MEHAK R. · Відгук надано більше 1 року тому

Omprakash D. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahrita D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishika S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shriram J. · Відгук надано більше 1 року тому

Jahid K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivam K. · Відгук надано більше 1 року тому

Saurabh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kunj J. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratham D. · Відгук надано більше 1 року тому

Daksha K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kamalini M. · Відгук надано більше 1 року тому