Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Bhagyshri G. · Відгук надано більше 1 року тому

将秀 高. · Відгук надано більше 1 року тому

go

Milan R. · Відгук надано більше 1 року тому

Balkrishna p. · Відгук надано більше 1 року тому

SANIYA P. · Відгук надано більше 1 року тому

Gaming E. · Відгук надано більше 1 року тому

Game C. · Відгук надано більше 1 року тому

Nayan P. · Відгук надано більше 1 року тому

DevTech M. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Shruti U. · Відгук надано більше 1 року тому

done

Dinkar A. · Відгук надано більше 1 року тому

May Phyu H. · Відгук надано більше 1 року тому

AMAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

AMAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

AMAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhargab D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishika J. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishi P. · Відгук надано більше 1 року тому

subhadip M. · Відгук надано більше 1 року тому

OMKAR N. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishan Kumar 2. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishikesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Srijan S. · Відгук надано більше 1 року тому