Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Abhijeet k. · Відгук надано більше 1 року тому

monica m. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyansh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Aris E. · Відгук надано більше 1 року тому

Suhas S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhaskar s. · Відгук надано більше 1 року тому

Aris S. · Відгук надано більше 1 року тому

Iwank S. · Відгук надано більше 1 року тому

Suman M. · Відгук надано більше 1 року тому

Raj B. · Відгук надано більше 1 року тому

raida m. · Відгук надано більше 1 року тому

Ramchandra P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

heshan j. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh K. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Laksh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak C. · Відгук надано більше 1 року тому

Apoorva K. · Відгук надано більше 1 року тому

willy rahma w. · Відгук надано більше 1 року тому

very n ice

Mrunal J. · Відгук надано більше 1 року тому

Deden R. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathamesh C. · Відгук надано більше 1 року тому

nice lab

Aman S. · Відгук надано більше 1 року тому