Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Agus Deni P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aqsho Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash K. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman P. · Відгук надано більше 1 року тому

adarsh k. · Відгук надано більше 1 року тому

SUMIT M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mona G. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash H. · Відгук надано більше 1 року тому

Striver D. · Відгук надано більше 1 року тому

mahi r. · Відгук надано більше 1 року тому

nice lab

CloudOps g. · Відгук надано більше 1 року тому

renu n. · Відгук надано більше 1 року тому

renu n. · Відгук надано більше 1 року тому

Himesh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivangi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Poonam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Husen S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman U. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarthak B. · Відгук надано більше 1 року тому

Dilshad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan B. · Відгук надано більше 1 року тому

good

naman G. · Відгук надано більше 1 року тому

Parth S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kurokami H. · Відгук надано більше 1 року тому