Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Prachi N. · Відгук надано більше 1 року тому

Samruddhi N. · Відгук надано більше 1 року тому

Manvith G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohsin A. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhanshri k. · Відгук надано більше 1 року тому

Sourabh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Anjali K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Joita P. · Відгук надано більше 1 року тому

Amresh Pratap S. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi J. · Відгук надано більше 1 року тому

Labs D. · Відгук надано більше 1 року тому

Tekula S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Pravin R. · Відгук надано більше 1 року тому

mas d. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham J. · Відгук надано більше 1 року тому

Utukuri N. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Simran G. · Відгук надано більше 1 року тому

vedija b. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankur Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarayavalasa R. · Відгук надано більше 1 року тому

vanisha K. · Відгук надано більше 1 року тому