Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Khushi L. · Відгук надано більше 1 року тому

Shahina M. · Відгук надано більше 1 року тому

NAVEEN S. · Відгук надано більше 1 року тому

dhruv p. · Відгук надано більше 1 року тому

Afnan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Adista A. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpeet K. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Disa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek N. · Відгук надано більше 1 року тому

Sunakshi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Hiroshi I. · Відгук надано більше 1 року тому

Kishan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfa C. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfa C. · Відгук надано більше 1 року тому

Gg

Sumit Ranjan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gauri k. · Відгук надано більше 1 року тому

Dipomoy S. · Відгук надано більше 1 року тому

mas d. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahrita D. · Відгук надано більше 1 року тому

Venkata Chamikar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nayan R. · Відгук надано більше 1 року тому

PRASHU S. · Відгук надано більше 1 року тому

Said M. · Відгук надано більше 1 року тому

Venkata Sai Prasad P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aireen J. · Відгук надано більше 1 року тому