Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Partha Pratim K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vikas S. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Pratik M. · Відгук надано більше 1 року тому

Krish J. · Відгук надано більше 1 року тому

Shefin M. · Відгук надано більше 1 року тому

Jyotsna k. · Відгук надано більше 1 року тому

Great

Krushna M. · Відгук надано більше 1 року тому

Lewis C. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush D. · Відгук надано більше 1 року тому

Animesh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Abir D. · Відгук надано більше 1 року тому

Prajapati P. · Відгук надано більше 1 року тому

Seakingretsu G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sojitra V. · Відгук надано більше 1 року тому

GAYATRI W. · Відгук надано більше 1 року тому

Md Shad I. · Відгук надано більше 1 року тому

Purva P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sinchan M. · Відгук надано більше 1 року тому

osm

Nikhil K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ruturaj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay p. · Відгук надано більше 1 року тому

KARAN P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anirudh B. · Відгук надано більше 1 року тому

uday kiran v. · Відгук надано більше 1 року тому

Adrija S. · Відгук надано більше 1 року тому