Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Vaibhav S. · Відгук надано більше 1 року тому

Swathi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nova Yuda E. · Відгук надано більше 1 року тому

Fahad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhav K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sravya J. · Відгук надано більше 1 року тому

vanshika s. · Відгук надано більше 1 року тому

Varnit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Fiza A. · Відгук надано більше 1 року тому

Seakingretsu G. · Відгук надано більше 1 року тому

Arsh G. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

RavindranathTagoor P. · Відгук надано більше 1 року тому

M Guru K. · Відгук надано більше 1 року тому

Prithwiraj M. · Відгук надано більше 1 року тому

Nazarullah M. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmay J. · Відгук надано більше 1 року тому

pardeep s. · Відгук надано більше 1 року тому

Aarya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahasan H. · Відгук надано більше 1 року тому

Hem raj s. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Adarsh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha R. · Відгук надано більше 1 року тому

Blue S. · Відгук надано більше 1 року тому

samruddhi j. · Відгук надано більше 1 року тому

Pournima C. · Відгук надано більше 1 року тому