Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Jasmeen S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit Kumar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay S N. · Відгук надано більше 1 року тому

nikita j. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit M. · Відгук надано більше 1 року тому

Fahkri R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aruna C. · Відгук надано більше 1 року тому

Amar K. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi B. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashank S. · Відгук надано більше 1 року тому

Syama Chandrika M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep H. · Відгук надано більше 1 року тому

Shruti J. · Відгук надано більше 1 року тому

Bunty N. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanisha B. · Відгук надано більше 1 року тому

Blue S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathmesh k. · Відгук надано більше 1 року тому

Viral B. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandhya D. · Відгук надано більше 1 року тому

orca s. · Відгук надано більше 1 року тому

Dipali M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed Abul H. · Відгук надано більше 1 року тому

teChno C. · Відгук надано більше 1 року тому

Yogiraj D. · Відгук надано більше 1 року тому