Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Darshana M. · Відгук надано більше 1 року тому

ok

Anushka D. · Відгук надано більше 1 року тому

Neeraj C. · Відгук надано більше 1 року тому

Meghna S. · Відгук надано більше 1 року тому

SHADAB S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prerna A. · Відгук надано більше 1 року тому

Jimmy L. · Відгук надано більше 1 року тому

Ranjan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Dipali M. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhyan K. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Gopal Chandra D. · Відгук надано більше 1 року тому

RAVI S. · Відгук надано більше 1 року тому

AMARESWAR CHOWDARY N. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohamed Nowfal A. · Відгук надано більше 1 року тому

srikanth a. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Swasti M. · Відгук надано більше 1 року тому

Abisheik s. · Відгук надано більше 1 року тому

Suhani T. · Відгук надано більше 1 року тому

Adithya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita G. · Відгук надано більше 1 року тому

yashjain G. · Відгук надано більше 1 року тому

Swapnil S. · Відгук надано більше 1 року тому

chandershker s. · Відгук надано більше 1 року тому

Swaraj M. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika S. · Відгук надано більше 1 року тому