Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Harsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Varsini M. · Відгук надано більше 1 року тому

Neelam N. · Відгук надано більше 1 року тому

محمد ع. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikhil P. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash U. · Відгук надано більше 1 року тому

Anwesha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreeya M. · Відгук надано більше 1 року тому

JyotleenKaur S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shouvik M. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikhil J. · Відгук надано більше 1 року тому

Santosh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Avinash A. · Відгук надано більше 1 року тому

saurabh m. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

ayushchoudhary G. · Відгук надано більше 1 року тому

Chandana Deeksha P. · Відгук надано більше 1 року тому

thatha p. · Відгук надано більше 1 року тому

Ummul Q. · Відгук надано більше 1 року тому

disturb

Satatya M. · Відгук надано більше 1 року тому

sejal k. · Відгук надано більше 1 року тому

Simran K. · Відгук надано більше 1 року тому

PRAVEEN KUMAR B. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanishka B. · Відгук надано більше 1 року тому

KATASANI B. · Відгук надано більше 1 року тому