Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pratista P. · Відгук надано більше 1 року тому

Munir K. · Відгук надано більше 1 року тому

Pramesti M. · Відгук надано більше 1 року тому

Raj V. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aniket T. · Відгук надано більше 1 року тому

ali i. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujwal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik M. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Anirudh T. · Відгук надано більше 1 року тому

Jayash M. · Відгук надано більше 1 року тому

Venkatesh Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Asutosh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rupsa B. · Відгук надано більше 1 року тому

good!!

Dunna S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vijay Kumar P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tushar V. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit c. · Відгук надано більше 1 року тому

Shrikant m. · Відгук надано більше 1 року тому

Prerna A. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahak S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar D. · Відгук надано більше 1 року тому

Dibyasha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Indrajit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Megha K. · Відгук надано більше 1 року тому