Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good lab

Sakshi Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Pikai M. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna T. · Відгук надано більше 1 року тому

Masito a. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

shrawani A. · Відгук надано більше 1 року тому

Sidharth P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ronanki R. · Відгук надано більше 1 року тому

Radhika S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanika Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Syed md F. · Відгук надано більше 1 року тому

Meghana M. · Відгук надано більше 1 року тому

Very Satisfied

Yash K. · Відгук надано більше 1 року тому

Chaithhanya Sai K. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash C. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavya U. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Sharmila N. · Відгук надано більше 1 року тому

Debalina G. · Відгук надано більше 1 року тому

ANCHIT M. · Відгук надано більше 1 року тому

Prateek C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shruti J. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Manali T. · Відгук надано більше 1 року тому

Farah R. · Відгук надано більше 1 року тому

IOT_04_Anurag Kumar Singh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranjal M. · Відгук надано більше 1 року тому