Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Techie S. · Відгук надано більше 1 року тому

Devangshi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahima D. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshika S. · Відгук надано більше 1 року тому

MD AZIZ A. · Відгук надано більше 1 року тому

Luis R. · Відгук надано більше 1 року тому

sahana s. · Відгук надано більше 1 року тому

Satheerth K. · Відгук надано більше 1 року тому

Aabid N. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pritesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Yosani Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Wisesa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aniket W. · Відгук надано більше 1 року тому

Jatin V. · Відгук надано більше 1 року тому

Diya S. · Відгук надано більше 1 року тому

varun s. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivraj P. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Aman K. · Відгук надано більше 1 року тому

Atindra G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mrunal M. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Subhara Jyoti N. · Відгук надано більше 1 року тому

Abdulla H. · Відгук надано більше 1 року тому

MADHUJA K. · Відгук надано більше 1 року тому