Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mayank Kumar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Geetanjali S. · Відгук надано більше 1 року тому

easy one.

Ɗʜʀʋv S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shyam V. · Відгук надано більше 1 року тому

M.SALMAN A. · Відгук надано більше 1 року тому

VENKATA TEJA U. · Відгук надано більше 1 року тому

Kamtina M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sonali B. · Відгук надано більше 1 року тому

Akmal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Nikhil prafulla P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek K. · Відгук надано більше 1 року тому

Siddhant J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ferry Yun K. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathamesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Kariveda S. · Відгук надано більше 1 року тому

Saigurucharan K. · Відгук надано більше 1 року тому

noicee

sakshi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tausheer Alam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gous S. · Відгук надано більше 1 року тому

SACHIN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajesh R. · Відгук надано більше 1 року тому

AYAAN A. · Відгук надано більше 1 року тому

Monish S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gaytri P. · Відгук надано більше 1 року тому