Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Rohak A. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik B. · Відгук надано більше 1 року тому

Smita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aradhana J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujjwal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Suryansh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Parth S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rudra S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sibaprasad m. · Відгук надано більше 1 року тому

Riya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shrushti G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahil Singh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Chinmay C. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Vishnu K R. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartikey Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Saswat B. · Відгук надано більше 1 року тому

Purva M. · Відгук надано більше 1 року тому

sudhir m. · Відгук надано більше 1 року тому

Kadambari Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Gayathri G. · Відгук надано більше 1 року тому

manisha s. · Відгук надано більше 1 року тому

HIMANSHU G. · Відгук надано більше 1 року тому

Suwandi A. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanjaya S. · Відгук надано більше 1 року тому