Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Suresh Kumar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujjwal R. · Відгук надано більше 1 року тому

NEKKALAPU S. · Відгук надано більше 1 року тому

Preetish M. · Відгук надано більше 1 року тому

M Mahfudl A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankush L. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya M. · Відгук надано більше 1 року тому

KAUSTHUBH P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishwari s. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh O. · Відгук надано більше 1 року тому

CHETAN N. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshee P. · Відгук надано більше 1 року тому

DATTATRAY D. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Shravani T. · Відгук надано більше 1 року тому

hareka g. · Відгук надано більше 1 року тому

Dheeraj P. · Відгук надано більше 1 року тому

Gourabananda D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanskruti P. · Відгук надано більше 1 року тому

Neha K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajas Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Suman B. · Відгук надано більше 1 року тому

JAGAN K. · Відгук надано більше 1 року тому

Itishree S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rachit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Sunil K. · Відгук надано більше 1 року тому